本發明涉及一種基于趨膚效應的鐵磁導體相對磁導率檢測方法及系統,所述方法包括檢測半徑為r的圓柱形待測樣品上任意相距L的兩個檢測點之間的低頻電阻值R0;根據待測樣品上任意兩個檢測點之間的低頻電阻值R0、兩個檢測點間距L和待測樣品半徑r計算待測樣品的電阻率ρ,檢測待測樣品上所述兩個檢測點之間的高頻電阻值R;根據待測樣品上所述兩個檢測點之間的低頻電阻值R0、高頻電阻值R、半徑r和電阻率ρ計算待測樣品的相對磁導率μr。本發明有效避免了常規方法需要將樣品加工成環狀、并需要繞制線圈的麻煩,也避免了磁路漏磁等缺陷,簡單巧妙,檢測結果準確,實現了快捷無損精確測量,具有較好的應用前景。
聲明:
“基于趨膚效應的鐵磁導體相對磁導率檢測方法及系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)