本發明公開了一種多缺陷材料M積分的無損測量方法,通過數字散斑相關技術,利用光學測量設備ARAMIS?4M(GOM?mbh)測得試件表面的位移場;通過均值濾波器對位移場進行平滑處理,并利用三次樣條擬合求得位移場沿兩個坐標軸的梯度;通過材料本構方程,計算材料表面應力場及應變能密度分布;代入M積分的定義表達式,選取包含缺陷的任意閉合路徑,通過數值積分計算M積分值。該方法適用于各種不同的缺陷及缺陷群,可用于評估航天、航空、機械等領域各種形式的材料損傷與結構完整性。
聲明:
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