本發明公開了一種無損測量納米顆粒熱膨脹系數的方法,其特征在于,將納米顆粒材料分散在基質材料中,然后用X射線吸收精細結構譜測量分散在基質材料中的最鄰近的納米顆粒原子間的距離為r,相鄰原子間距離的平方相對位移σ2,相鄰原子間距離的立方相對位移C3,根據公式(見圖)計算得納米顆粒的熱膨脹系數,公式中,r為最鄰近的原子間距離,R為同一配位層中的所有原子到中心原子之間的平均距離,T為測量溫度,σ2=C2=2>為相鄰原子間距離的平方相對位移,C3=3>為相鄰原子間距離的立方相對位移,,θE為納米顆粒愛因斯坦溫度。本發明方法可用于測量納米顆粒熱膨脹系數。
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