本發明涉及一種無損穩態導熱率測量方法,包括:1、對于塊狀材料,利用加熱源通過點加熱的方式加熱樣品的表面,對于薄膜材料,利用區域加熱方式加熱樣品和某種已知導熱率的對比材料;2、當樣品達到熱穩態時,對于塊狀材料,通過測量樣品加熱表面任意一點的溫度變化或者任意兩點的溫度差來表征樣品表面的溫度場,對于薄膜材料,通過測量樣品和對比材料加熱區域中任意一點的溫度變化來表征;3、通過樣品的導熱率與樣品表面的溫度場的物理模型得到樣品的導熱率。與現有技術相比,本方法具有如下優點:1.實現樣品同側加熱和探測,可應用于無損測量;2.簡化樣品制備和測量裝置,縮短測量時長;3.環境影響小,可在多種環境下測量導熱率。
聲明:
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