一種LED芯片的無損測試方法,包括以下步驟:(1)制備電極導電膜,該電極導電膜包括透明絕緣基底及設置在基底上的透明導電槽;(2)將需要測試的LED芯片表面覆蓋上電極導電膜,使LED芯片的正負電極位于對應的透明導電槽內;(3)將自動測試機的兩個探針扎到電極導電膜上接觸正負電極位置區域;(4)測試完畢之后將電極導電膜去除。該測試方法利用測試探針與LED芯片電極間接接觸代替直接接觸,在芯片電極表面覆蓋一層電極導電膜作為保護,解決了LED芯片測試中的針痕問題,實現無損傷測試,對電極進行保護,同時該方法操作簡單、增加了測試針的使用頻次,降低測試成本。
聲明:
“LED芯片的無損測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)