本發明公開了一種蘋果沖擊損傷面積的高光譜無損預測方法。本發明具體步驟包括:1)確定蘋果樣品的沖擊損傷面積;2)提取蘋果樣品受損與未受損區域的平均光譜;3)光譜分析;4)建立蘋果沖擊損傷面積的預測模型。本發明能夠快速、準確地實現對蘋果沖擊損傷面積的無損量化及預測,可為無損評估果實的機械損傷提供重要手段,也為高光譜成像技術應用于農產品領域提供借鑒。
聲明:
“蘋果沖擊損傷面積的高光譜無損預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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