一種銀或金納米粒子膜拉曼芯片定標無損質檢方法與設備,所述拉曼芯片在紫外可見平行光束中檢測消光(Extinction)吸收光譜SPR主峰高度HSPR,采用HSPR~HRs定標方法,用定標樣品的拉曼光譜中定標峰的高度HRS間接表征所述拉曼芯片的靈敏度質量;HSPR~HRS定標曲線,需檢測至少5種不同靈敏度的HSPR值之后,相繼檢測定標樣品如R6g?10?6M/L的拉曼光譜中的定標峰高HRS,創建HSPR~HRS定標曲線,根據所述拉曼芯片質檢達標規范制定質控限,實施所述拉曼芯片定標無損質檢。無損質檢過程中,為防止拉曼芯片在空氣中氧化損傷,需設置在硝酸銀溶液環境中完成,或真空環境中、或惰性氣體中完成。
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