本實用新型涉及一種用于超聲波無損檢測的便攜式校核試塊,所述校核試塊近似呈梯形體,所述梯形體包括上底面、下底面、左斜面、右斜面、前端面和后端面,所述上底面平行于下底面且長度小于下底面,所述上底面與左斜面的內夾角為160°,所述上底面與右斜面的內夾角為150°,所述下底面與左斜面通過左過渡面過渡連接,所述下底面與右斜面通過右過渡面過渡連接,所述左過渡面、右過渡面均垂直于下底面;所述校核試塊上設有從前端面垂直貫穿至后端面的圓孔;所述校核試塊上設有刻度。本實用新型的優點在于:加工方面簡單;試塊體積小巧;將CSK?IA和CSK?IIA兩塊試塊的部分功能集中設計在一塊試塊上,滿足現場校核需要。
聲明:
“用于超聲波無損檢測的便攜式校核試塊” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)