本實用新型公開了一種中子無損檢測裝置,包括中子發射源、底座、屏蔽蓋、中子成像探測器,底座上側面為樣品放置區,底座中間設有安裝中子發射源的腔體,所述的腔體貫穿底座的上側設置,所述的屏蔽蓋設在底座上側,屏蔽蓋可在上下方向進行位置的調節,所述的中子成像探測器設置在屏蔽蓋的上側;所述的屏蔽蓋為上小下大的錐形管體結構,還包括屏蔽管,所述的屏蔽管豎直設置在屏蔽蓋內,屏蔽管的上端與屏蔽蓋的上端開口處連接,屏蔽管為可上下伸縮設置,所述的屏蔽蓋的內側壁上設有反射調節板,反射調節板的下端與屏蔽蓋鉸接連接,屏蔽蓋上設有螺紋孔,所述的螺紋孔上連接有調節螺桿,所述的調節螺桿與反射調節板的上端連接。
聲明:
“中子無損檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)