本實用新型公開了一種電子元件X光無損檢測裝置,包括第一升降機構、第二升降機構、平移機構、X光發射器、X光接收器、載物臺。第一升降機構位于平移機構的上方;第二升降機構位于平移機構的下方。X光接收器裝設在第一升降機構上。X光發射器裝設在第二升降機構上。載物臺裝設在平移機構上。第一升降機構包含第一升降滑軌、第一升降驅動電機、擺動驅動電機、橫梁。擺動驅動電機通過第二傳動組件與旋轉軸相連接。擺動驅動電機帶動第一升降滑軌在橫梁上左、右傾斜,從而調整X光接收器相對于載物臺的角度,實現對待測電子元件的多角度檢測,操作簡單、節省檢測時間,提高了電子元件的檢測效率。
聲明:
“電子元件X光無損檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)