本發明涉及一種使用太赫茲波對揚聲器振膜進行無損檢測的方法及系統。包括:太赫茲收發一體設備,增益天線和控制計算機。太赫茲波由發射源發出,經過增益天線后收束直接照射到揚聲器表面。太赫茲探測器測量反射回來的太赫茲波強度并進行時頻分析。在得出揚聲器表面的各點具有最大能量的頻率后進行成像,通過圖像上的頻率異常點檢測出揚聲器的破損或異常形狀的位置。本發明不需要昂貴的的超聲探測設備以及放射性較強的射線照相法設備。通過對揚聲器發射太赫茲波,并采集回波數據解析以及對相位信息的時頻分析,獲取其表面的各點所具有最大能量的振動頻率。通過頻率圖像中的異常頻率出現位置進而確定揚聲器表面產生破損或者形狀異常的位置。
聲明:
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我是此專利(論文)的發明人(作者)