本實用新型提供一種雙光路X射線無損檢測裝置,包括放射源、前準直器、測量臺、被測工件、后準直器、線陣探測器、康普頓探測器、保護外殼以及控制系統,其中前準直器為無散射狹縫,后準直器為高分辨率的多平行束準直器。測量時,通過控制系統控制測量臺進行圓周方向步進轉動和豎直方向的移動,放射源、前準直器、后準直器、線陣探測器、康普頓探測器的中心延長線均指向被測工件上的檢測部位;所述后準直器設于康普頓探測器和線陣探測器前端以排除雜散射線。本實用新型使用兩條光路,不但可以進行工件整體分析,還可以進行工件表面分析,分辨率高,可進行不同倍數的放大掃描,使用方便。
聲明:
“雙光路X射線無損檢測裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)