本發明公開了一種基于偏振光技術的稻米籽粒新陳度無損定量檢測方法及其系統,所述方法包括:構建稻米籽粒的偏振光數據與稻米籽粒新陳度之間的定量分析模型,所述偏振光數據為結合RGB顏色空間的偏振光數據;獲取待測稻米的偏振光數據,并根據所述定量分析模型確定所述待測稻米的新陳度。其中,本發明創造性的引入了偏振光技術,構建了偏振光數據與稻米籽粒新陳度之間的定量分析模型,用于稻米新陳度檢測。其過程無需粉碎制備樣品,可以原籽粒形式以實現更快速、更準確、更簡單的無損稻米新陳度的檢測。
聲明:
“基于偏振光技術的稻米籽粒新陳度無損定量檢測方法及其系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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