公開了一種用于確定數據點{ti, si}流內(1≤i≤z, k< z)至少一個被平滑數據點(tk, sk)的方法和設備。此處，以在獲取先前數據點(ti-1, si-1)之后獲取數據點{ti, si}的方式，連續獲取所述數據點{ti, si}流，其中每個數據點{ti, si}包括信號si在時間ti的有效值或無效值或缺失值。此處，在所述時間ti的所述信號si包括借助技術設置獲取的物理、化學、生物、環境、和/或技術數據。根據所述方法，提供了數據點集，其中，對于每個被平滑數據點(tk, sk)，創建平滑集。對每個被平滑數據點(tk, sk)，從大間隙產生的拖尾數據被去除，直至驗證所述平滑集是否包括最小數量的數據點。此后，對每個被平滑數據點(tk, sk)，計算初始斜率集，對所述初始斜率集應用至少一個指數平滑，其中，使得確定至少一次修改的斜率集。通過對所述至少一次修改的斜率集進行積分，確定并返回所述被平滑數據點(tk, sk)的值。所述方法提供了良好程度的平滑，而不引入任何滯后時間，具有最小失真，并且能夠同時報告所述被平滑數據點集的導數。所述方法特別適合于可以包括所述數據點流內的大間隙的實時或近實時測量。
聲明：
“用于確定數據點流內被平滑數據點的方法和設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業用途，請聯系該技術所有人。
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編輯：管理員
來源：中冶有色網
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2025年08月05日 ~ 07日 
