本發明涉及一種面向磁共振成像放射狀采樣軌跡的切片自適應確定方法,包括以下步驟:步驟1、獲取磁共振數據,構建深度強化學習模型的訓練和測試數據;步驟2、基于步驟1獲得的訓練數據進行重建網絡的預訓練;步驟3、依據步驟2得到的預訓練重建網絡構建強化學習系統的環境和決策網絡,進而實現對放射狀切片自適應的高性能k空間主動欠采樣。本發明能夠提高對k空間數據的利用能力,改善目前單目標獎勵函數對圖像質量變化表示不夠充分的問題,并通過重新建立重建網絡的訓練模式,使得強化學習的目標明確,提高磁共振成像質量。
聲明:
“面向磁共振成像放射狀采樣軌跡的切片自適應確定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)