一種確定線性聚合體樣品中化學基團序列的同一性的裝置和方法。該裝置包括具有由等離子共振金屬所形成鏡表面的基體、光束源和由一個或多個設置在限定探測區域開口處周圍的等離子共振粒子構成的透鏡組件。當光束定向在探測區域的樣品上時,粒子布置成在多個納米透鏡和基體表面上的面對的探測區域間產生近場電磁間隙模式。還包括一個探測器和一個平移機構,該探測器用于接收由探測區域中樣品所放射的或從樣品所散射的光,并將接收到的光轉換成間隙模式增強拉曼光譜,由此識別探測區域中樣品的取樣化學基團,該平移機構用于相對于透鏡組件移動樣品,通過透鏡組件的開口。
聲明:
“增強納米分光鏡掃描的方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)