本發明公開一種光學表征含動態鍵高分子材料松弛過程的裝置及方法,該裝置包括依次同軸設置的平面平行光源、起偏鏡、對面透明環境箱、檢偏鏡和記錄裝置,設置在對面透明環境箱上的加載裝置;方法為:1)將含有動態化學鍵的高分子材料試樣置于線偏振平面平行光環境下;2)在線偏振平面平行光環境下,標定試樣的各項參數;3)通過外力使試樣發生變形,并保持其形變。4)激活試樣中的動態鍵交換反應;5)記錄經由檢偏鏡疊加合成后出現的干涉條紋的光強信息。6)依據記錄到的干涉條紋的光強信息,計算當前試樣中的應力松弛狀態。本發明通過非接觸式的方法測量含動態化學鍵材料內部的應力狀態,確定其重塑過程中的應力水平,為其熱處理時間與溫度提供設計依據。
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