本發明提供了一種獲取保持環的最佳工藝參數的方法,包括:建立化學機械研磨系統的有限元分析模型,包括拋光墊、晶圓、設置在晶圓外圍的保持環、以一定的壓力將晶圓和保持環壓在拋光墊上的夾持器;確定分析模型的邊界條件,并將拋光墊、晶圓、夾持器和保持環的材料參數代入分析模型;將不同組的保持環的工藝參數分別代入分析模型,并計算出每一組的保持環工藝參數下晶圓的表面等效應力分布結果;對比所有組的表面等效應力分布結果,獲得使晶圓邊緣的應力峰值最小的一組工藝參數,從而可以對實際生產中所需確定的保持環工藝參數進行指導,以避免晶圓邊緣的應力集中現象,最大程度的降低晶圓邊緣的過度磨損,進而可以提高晶圓的拋光精度和利用率。
聲明:
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