本發明揭示了一種用于識別樣品(82)中化學基團的裝置和方法。裝置(35)包括:具備支撐樣品(82)的等離子體振子共振表面的基質(80)、光束源(10)、和包括尖端區域和由尖端區域上的一個或更多個等離子體振子顆粒(PRP)組成的納米透鏡的透鏡組件(60)。將所述PRP安排在納米透鏡(62)和基質表面(80)上的對抗探測區之間的空間內,當納米透鏡(62)和基質(80)間的間隙為30nm或更小時產生近場電磁間隙模式。所述裝置中的聚焦機構用于移動所述透鏡組件(60)朝向或離開所述基質表面(80),而所述間隙小于30nm,從而產生用于增強拉曼分光信號的電磁間隙模式,該信號由檢測區域的樣品(82)產生。
聲明:
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