本發明提出了由電子衍射花樣進行物相識別的新方法,可用于已知化學組分但不能確定其晶體結構的材料的物相識別,尤其適用于難以獲得多張衍射花樣的場合。本發明的優點為:只需要記錄一張含高階勞厄衍射環的帶軸電子衍射花樣或者在同一待測晶體的晶粒上記錄一張零階勞厄衍射點花樣和一張對應的高階勞厄衍射環花樣,雖然不能完全確定待測晶體的布拉菲格子,但利用所測量的高階勞厄衍射環的半徑和初基原胞體積與目標結構的計算結果比對,不僅能提高指標化的準確性,還能有效過濾不滿足條件的備選物相,大大提高了物相分析的準確性;在實際的電鏡實驗和數據分析中,明顯提高工作效率。
聲明:
“利用電子衍射進行物相識別的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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