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            > 基于劃痕法的二代高溫超導帶材界面強度測試方法

            基于劃痕法的二代高溫超導帶材界面強度測試方法

            800   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 07:28:48
            本發明公開了一種基于劃痕法的二代高溫超導帶材界面強度測試方法,通過化學腐蝕去除銅穩定層和銀保護層,露出銀保護層下方的超導層和基底層,將高溫超導帶材粘貼固定至納米劃痕實驗臺上,并使露出超導層的一面朝上;使用球形壓頭通過斜坡加載模式開展納米劃痕實驗,確定界面剝離臨界荷載Lc、超導涂層與壓頭的滑動摩擦系數;通過顯微鏡觀測劃痕形貌,確認界面開裂發生位置與擴展區域,通過統計學方法確定發生完全剝離的平均劃痕起裂寬度dc;根據Laugier公式計算界面強度。劃痕測試方便、快捷,并且直接作用于超導薄膜表面,不需要焊接或者粘接,有效避免非界面彈塑性變形的影響,測試結果重復性高,計算所得界面強度數據離散度低。
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            “基于劃痕法的二代高溫超導帶材界面強度測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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