本發明提供一種測量LTPS顯示面板的TFT電性的方法,其通過化學試劑同時與有機平坦層以及第二金屬層中的鋁反應,去除有機平坦層、第二金屬層中的鋁、以及第二金屬層中的位于鋁和有機平坦層之間的第一金屬材料,僅保留第二金屬層中位于遠離所述有機平坦層一側的第一金屬材料,去除有機平坦層時不需要保留第二金屬層中的鋁,避免因第二金屬層中的鋁表面蝕刻不均勻導致的TFT電性測量偏差,能夠準確測量LTPS顯示面板的TFT電性,提升LTPS顯示面板的TFT電性的測量成功率,保證LTPS顯示面板產品良率。
聲明:
“測量LTPS顯示面板的TFT電性的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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