本公開涉及一種電池包壽命預測方法、存儲介質以及電子設備,涉及電池技術領域,該方法包括:確定待測電池包內的每個單體電池的初始的電池特性參數;根據預先構建的容量衰退模型、以及預先構建的電化學?熱耦合模型對所述單體電池進行循環充放電模擬,以得到每次充放電模擬過程所述單體電池的端電壓,從而根據端電壓確定待測電池包的使用壽命。本公開的有益效果是:不僅能夠準確對電池包的壽命進行預測,而且相比現有技術能夠大幅縮短測試周期以及節省測試資源。
聲明:
“電池包壽命預測方法、存儲介質以及電子設備” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)