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            > D-T源中子孔隙度測井非彈性散射影響的校正方法

            D-T源中子孔隙度測井非彈性散射影響的校正方法

            1136   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 07:25:59
            本發明公開一種D?T源中子孔隙度測井非彈性散射影響的校正方法,該方法采用可控中子源孔隙度測井裝置,按照如下步驟進行:步驟1:求取D?T源所測近、遠探測器計數率比值R與地層快中子減速長度Ls的關系;步驟2:推導R與所劃分兩階段減速長度Ls?H、Ls?AB的關系;步驟3:利用非彈伽馬計數率對Ls?H進行表征,進而得出與Am?Be源相同的Ls?AB;步驟4:根據減速長度與孔隙度的刻度關系,得出與Am?Be源響應兼容的孔隙度結果。本發明可以有效地代替密度校正方法來提高可控源與化學源測井的兼容性,并且不需要地層密度參數,無化學源放射源的需求,在不進行可控源密度測量的情況下也能進行處理,對可控源孔隙度測井的實際應用推廣具有重要意義。
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