本發明涉及一種利用低分辨率近紅外熒光譜測量HF高振動態粒子數分布的技術,它基于自發輻射熒光光譜技術,是一種測量HF分子高振動激發態能級粒子數分布的新方法。本發明主要應用于化學激光測試診斷技術領域,是為了簡化在HF化學激光系統中測量振動激發態粒子數分布情況的過程而產生的,本發明只需要將HF基頻自發輻射熒光光譜的幾條P支譜線強度進行簡單的加和即可,具有簡單方便、精度高、非侵入性等特點。利用本發明,可以實現HF化學激光器中高振動激發態各個能級粒子數分布的快速測量。
聲明:
“利用低分辨率近紅外熒光光譜測量HF高振動態粒子數分布的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)