本發明涉及WIC鑲嵌超導線材銅超比測量技術領域,尤其為WIC鑲嵌超導線提供一種質量與電阻相結合的銅超比測量方法;將鍍錫前鑲嵌圓線與鑲嵌銅槽線進行剝離;采用電阻法測量鑲嵌圓線的銅超比β,通過計算得出鑲嵌圓線銅的體積,鑲嵌圓線Nb阻隔層與NbTi芯絲的體積;稱重鑲嵌銅槽質量并通過計算獲得鑲嵌銅槽線體積;稱重WIC鍍錫成品線質量,鑲嵌銅槽與鑲嵌圓線質量之和,兩者相減獲得鑲嵌焊料錫的質量并通過計算獲得焊料錫的體積。大量測量比對實驗表明:本發明的方法與化學腐蝕法測量比對誤差在2%以內,滿足使用需求。本發明的方法與化學腐蝕法相比,效率提升65%以上,且避免了化學腐蝕法使用HNO3對環境造成的污染。
聲明:
“通過質量-電阻法測量WIC鑲嵌超導線銅超比方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)