本發明公開了一種金屬細絲超薄金屬鍍層厚度的測量方法,實現了直徑小于20μm的金屬細絲,金屬鍍層厚度小于0.2μm時鍍層厚度的測量。首先取一定長度的樣品,稱量出總質量,采用化學檢測的方法,將其完全溶解,利用電感耦合等離子體光譜儀測試出鍍層金屬的質量,樣品總質量與鍍層金屬質量的差即為金屬細絲的質量。然后根據金屬細絲的質量,通過計算得到金屬細絲的半徑。最后利用掃描電子顯微鏡測試包含鍍層的樣品的直徑,計算得出包含鍍層樣品的半徑,該半徑即為金屬細絲的半徑與鍍層厚度的和,再減去金屬細絲的半徑即得金屬鍍層厚度。本發明的測試方法提高了超薄鍍層厚度測試的準確度,具有很高的可操作性、重復性和再現性。
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