本發明屬于金屬涂層檢測技術領域,具體提供了一種用于顯示鋁硅層富鋁相枝晶的腐蝕液及枝晶測量方法。所提供的的腐蝕液包括質量濃度g/ml為l.2%?10%的氫氧化鈉溶液和體積濃度v/v為0.1?0.5%的鹽酸溶液;顯示鋁硅層富鋁相枝晶的方法包括制樣、采用如前所述腐蝕液進行化學腐蝕、清洗和掃描電鏡觀察;觀察到鋁硅層富鋁相枝晶后,選取3?8個枝晶,測量其之間的尺寸,用總尺寸除以枝晶個數,即可得枝晶間距。本發明提供的腐蝕液和的方法可以得到完整清晰的富鋁相樹枝晶立體結構,可充分顯示富鋁相樹枝晶的形貌、尺寸分布及生長情況,并可準確地測量枝晶間距的尺寸,且具有檢測費用低、快速、簡單、準確、安全的特點。
聲明:
“用于顯示鋁硅層富鋁相枝晶的腐蝕液及枝晶測量方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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