本發明公開了屬于微機械加工技術領域的一種植入式雙性能測試微電極陣列。該微電極陣列由至少一個以上微電極和外部電纜束組成,每個微電極包括電生理學微電極、電化學微電極、電極基底、電極內引線、電生理學引線接口、電化學引線接口、引線接口基底、電生理學電極表面涂層、電化學表面電極涂層。具有涂層的微電極分布在電極基底的表面,并且在水平方向上有兩個距離相對適宜且對應的微電極,分別用于電生理和電化學測量,外部電纜束中的電纜將引線接口與外部設備連接起來向外部設備輸出信號。本發明基于神經系統的空間結構特點,能夠在有效的空間內實現神經元的電生理電信號記錄和電化學遞質的同時檢測。
聲明:
“植入式雙性能測試微電極陣列” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)