一種利用固體核徑跡探測器測量218Po長時間平均沉積率的方法及裝置,測量時,將測量裝置箱體的底部固定在測量環境中室內的墻面,地面或天花板頂上,測量時間為T,T的值根據測量要求為數天到數百天。測量過程完成后,立即取下第一固體核徑跡探測器、第二固體核徑跡探測器和第三固體核徑跡探測器,并對其進行化學蝕刻,分別讀取第一固體核徑跡探測器、第二固體核徑跡探測器和第三固體核徑跡探測器上的核徑跡數,并通過計算得到218Po的長時間平均沉積率。
聲明:
“利用固體核徑跡探測器測量218Po長時間平均沉積率的方法及裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)