本發明屬于合金痕量元素分析技術,涉及一種測定單晶高溫合金中的超低硫(0.0002%~0.0020%)含量的方法。本發明采用高純化學試劑硫酸鉀制備硫標準試樣,其中的硫含量是已知的,這樣可以確保儀器校準的準確性。通過助熔劑試驗,選擇了最佳助熔劑從而使材料中硫完全釋放,提高了測量的準確度。本發明解決了單晶高溫合金中的超低硫測定難題,降低了硫測量下限,下限達到0.0002%。提高了測定結果的準確性,為單晶高溫合金研制、冶煉、應用和質量控制提供了可靠的技術保障。
聲明:
“測定單晶高溫合金中的超低硫含量的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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