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            > 化學分析技術

            > 基于半導體光電二極管的高集成度光譜探測系統

            基于半導體光電二極管的高集成度光譜探測系統

            831   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 07:22:39
            本發明提供的是一種基于半導體光電二極管的高集成度光譜探測系統,由半導體光電二極管探測陣列、偏置電壓電路、跨阻放大器(TIA)陣列、模擬數字(AD)轉換電路陣列、光譜重構系統、信息顯示系統和光譜響應函數系統組成,可實現結構簡單的高性能小型化光譜儀,可廣泛應用于光學檢測、生物化學分析、工業自動監測、軍事偵察、天文研究等領域。
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            “基于半導體光電二極管的高集成度光譜探測系統” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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            化學分析
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