本發明涉及基于雙光子計數器寬線性范圍的光子測量系統,屬于光學檢測技術領域,被測物發出的光經導光棒入射至分光裝置的分光膜,經分光膜透射的透射光入射至測低值光子計數器,經分光膜反射的反射光經過光闌和衰減片后入射至測高值光子計數器,計算處理裝置判斷測高值光子計數器輸出的第一測值是否大于閾值,閾值為測低值光子計數器的線性最高點對應的測高值光子計數器的光子數,若是,則計算處理裝置輸出光子探測值,光子探測值為第一測值與分光膜的分光比的乘積。本發明利用測低值光子計數器和測高值光子計數器相結合,實現微弱光相對光強的寬線性范圍探測,從而滿足化學發光免疫分析領域或者其他光能量探測等領域所需的寬線性范圍測量的需求。
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