本發明公開了一種測量固態超薄膜吸收光譜的方法及相應的光譜測量裝置。本發明將被測試的固態超薄膜淀積在光波導導波層局部表面上,通過改變固態超薄膜上方介質的折射率而使分布在固態超薄膜內部的波導光能量發生變化,從而改變固態超薄膜對導波光的吸收,由此獲得固態超薄膜的吸收光譜。本發明靈敏度高,操作簡單,測量時間短,不僅能夠用于分析固態超薄膜光譜的偏振依賴性和界面依賴性,還可用于制作化學和生物傳感器。
聲明:
“固態超薄膜吸收光譜測量方法及相應的光譜測量裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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