本發明提供一種通過光測定來進行高速且高可靠性的良好與否判斷的新技術。至少在1100~1300nm具有連續的光譜的超晶格光從脈沖光源(1)出射,并以一脈沖中的波長與經過時間的關系成為1對1的方式被伸長元件(2)脈沖拉伸而照射到產品(P)。透過產品(P)的光被受光器(3)接收,輸出數據被輸入到判斷單元(7)。判斷單元(7)的良好與否判斷程序(43)根據輸出數據計算吸收光譜,利用化學計量學進行量化而與基準值進行比較,判斷良好與否。被判斷為是不良品的產品(P)被排除機構(8)排除。
聲明:
“產品檢查方法及產品檢查裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)