本發明公開了一種高通量、超靈敏檢測的點陣陣列增強芯片,屬于食品安全檢測領域。本發明通過在親水基底上化學鍵合單層納米金顆粒,將納米金材料通過靜電吸附作用自然沉降至芯片孔洞中,并形成規則排列的點陣??锥磁挪嫉慕痤w粒在顆粒表面活性劑(CTAB)的間隔下形成等離子體區域增強熱點所排布的納米金顆粒相互之間聚集形成長程效應,從而提高了芯片的檢測效率和靈敏度。
聲明:
“高通量、超靈敏檢測的點陣陣列增強芯片” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)