本申請提供一種光學檢測系統、方法、設備和存儲介質。該光學檢測系統,用于對待測物進行檢測,包括:光源、波分復用光波導模塊、至少一個檢測探針、探測器;光源發射的光通過波分復用光波導模塊傳輸至所述至少一個檢測探針;所述至少一個檢測探針將光射出到待測物中,并收集攜帶有待測物信息的光信號;所述至少一個檢測探針收集的攜帶有待測物信息的光信號通過波分復用光波導模塊傳輸至探測器;探測器對所述至少一個檢測探針收集的攜帶有待測物信息的光信號進行檢測,以確定待測物的成分。利用光對不同物質的不同反射特性對物質進行檢測,相對于電化學傳感器,不需要反應物,也不容易失效,可以保證壽命。
聲明:
“光學檢測系統、方法、設備和存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)