本申請提供了一種AI輔助檢測方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質,所述方法包括:獲取待檢測對象的2D檢測信息;根據所述2D檢測信息,使用缺陷檢測模型得到缺陷的位置信息;根據所述缺陷的位置信息控制3D輪廓儀對所述待檢測對象進行區域性掃描,以使所述3D輪廓儀得到所述缺陷的輪廓信息。上述方法將復雜場景下待檢測對象的缺陷初定位問題交給AI技術處理,利用AI技術中對大數據強化學習的優勢解決目前傳統圖像算法無法解決的問題,即使用2D深度學習識別定位,加上3D機器視覺定量分析,大大降低檢測過程的復雜程度,同時顯著提高檢測的效率和準確度。
聲明:
“AI輔助檢測方法、裝置、電子設備及計算機可讀存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)