由第一絕緣基片層、第二基片層和居間絕緣間隔層形成電化學試條。所述絕緣間隔層中的開口限定了測試池,該測試池在一側與所述第一基片的內表面接觸,并且在另一側與第二基片的內表面接觸。測試池的尺寸由暴露的基片的面積和所述間隔層的厚度確定。適用于要被檢測的分析物的工作電極和對電極在所述測試池內的位置被設置所述第一絕緣基片上。所述工作電極和對電極與導電引線相連,該導電引線允許連接所述電極到測定分析物的儀器。所述第二基片至少在面向所述工作電極和對電極的區域是導電的。該第二基片的導電表面不需要與所述儀器功能相連。當在工作電極與對電極之間施加電勢差時,由于在所述第二基片上導電表面的存在,相關的擴散長度不依賴于工作電極和對電極之間的距離,而是依賴于所述第一和第二基片之間的距離(即依賴于所述間隔層的厚度)。這意味著不需要減小工作電極和對電極的間距就能實現較短的測量時間。
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