本發明提供一種鑒定NIST譜庫外化合物結構的分析方法及應用,在不切換離子源的情況下通過氣質聯用儀實現“軟電離”以獲取化合物的分子離子峰,簡化測試工序的同時提高分析效率;通過分析分子離子峰的二級碎片得到化合物的完整化學結構,可鑒定NIST譜庫中未收錄的化合物,極大彌補了GC?MS在結構鑒定中的局限和不足。
聲明:
“鑒定NIST譜庫外化合物結構的分析方法及應用” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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