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            有機純物質中痕量雜質分析裝置及分析方法

            858   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 06:49:11
            本發明公開了一種有機純物質中痕量雜質分析裝置及分析方法。所述裝置包括:液相色譜儀、切割閥、基于等離子體的電離源和質譜儀,所述基于等離子體的電離源包括霧化器和電暈放電針;液相色譜儀依次連接切割閥、霧化器、電暈放電針和質譜儀。所述方法包括:樣品送入液相色譜儀,依次通過切割閥、基于等離子體的電離源,樣品中的雜質被離子化,送入質譜儀分析。本發明采用基于等離子體的化學電離源不僅能夠電離極性和弱極性的雜質分子,同時可電離非極性的分子;將主成分切割后的雜質離子進入質譜儀后可進行相應的質量分析,從而獲得雜質分子的定性信息。
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            “有機純物質中痕量雜質分析裝置及分析方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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            化學分析
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