本發明公開了一種基于注意力機制強化學習的半導體晶片測試路徑規劃方法,用于解決現有半導體晶片測試路徑規劃方法通用性差的技術問題。技術方案是采用軟性注意力機制(Soft Attention Mechanism)的深度強化學習模型架構來訓練代理人。特別采用長短期記憶架構,使狀態具有記憶能力,并運用課程學習方式逐步擴大晶圓尺寸,利用遷移學習訓練不同探針卡樣式。本發明有效地克服了晶片擴大時模型難以訓練的問題,適用于多種晶片尺寸下的應用。通過訓練代理人的方式,代理人能以最少移動步數將晶片上所有晶粒測試完畢,有效減少了探針移動次數與移動距離,通用性好。
聲明:
“基于注意力機制強化學習的半導體晶片測試路徑規劃方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)