本發明公開一種基于強化學習的X射線頭影測量標志點自動定位方法,包括以下:獲取若干訓練用的正畸科X線頭顱側位片圖像數據,人工標注出多個標志點的位置,并預處理后確定每一個標志點的最終位置;建立馬爾科夫決策過程模型,基于深度強化學習定位算法,求解馬爾科夫決策過程,得到最優策略;S3)輸入一張X線頭顱側位片,得到每個標志點的估算值,在圖中標出目標點和經過模型預測的標志點位置,同目標點相比較得出平均誤差和方差。本發明采用深度強化學習的方法,將頭影標志點定位問題表示為強化學習中的順序決策問題;能夠針對不同的標志點,分配不同的強化學習代理,同時探索各自的標志點,從而解決頭影標志點定位的耗時和準確性問題。
聲明:
“基于強化學習的X射線頭影測量標志點自動定位方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)