本申請公開了電化學參數預測方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質,所述電化學參數預測方法包括:構建待測部品的等效電路,將待測部品的全頻段阻抗數據劃分為低頻段阻抗數據、中頻段阻抗數據和高頻段阻抗數據;采集待測部品的中頻段阻抗數據和高頻段阻抗數據;確定收斂的機器學習模型,將中頻段阻抗數據和高頻段阻抗數據輸入至收斂的機器學習模型,預測得到初始電化學參數;根據初始電化學參數,確定等效電路中各電路元件的目標電化學參數。本申請在提高對電化學參數的預測精度的同時,提升了預測效率。
聲明:
“電化學參數預測方法、裝置、電子設備及可讀存儲介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)