本發明公開了一種測量納米顆粒物化學組分的氣溶膠質譜系統,其包括納米掃描電遷移率顆粒物粒徑譜儀、第一差分室、第二差分室、光電離室以及反射式飛行時間質譜裝置,其中,所述納米掃描電遷移率顆粒物粒徑譜儀的氣溶膠出口與所述第一差分室進口連接,所述第一差分室的出口與所述第二差分室進口連接,所述第二差分室的出口與所述光電離室的進口連接,所述光電離室出口與所述反射式飛行時間質譜裝置連接。本發明的氣溶膠質譜系統通過納米掃描式電遷移率粒徑譜儀實現對納米顆粒物的荷電、粒徑選擇和粒譜分析,用于實時、在線測量獲得粒徑小于60nm納米顆粒物的化學組分信息。檢測過程簡單、實現了納米顆粒物的快速和高效率傳輸。
聲明:
“測量納米顆粒物化學組分的氣溶膠質譜儀” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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