本發明公開了一種CTAB?CNT?Chit修飾電極,包括玻碳電極和位于玻碳電極表面的修飾層,所述修飾層由碳納米管、殼聚糖和十六烷基三甲基溴化銨制成。本發明還公開其制備方法如下:(1)取碳納米管、殼聚糖溶液和N,N?二甲基甲酰胺混合均勻,然后加入十六烷基三甲基溴化銨水溶液,混勻后得CTAB?CNT?Chit修飾液;(2)將CTAB?CNT?Chit修飾液滴于打磨至鏡面的玻碳電極表面,紅外光下烘干即得。本發明還公開一種利亞硫酸鹽共存時吊白塊含量的電化學測定方法:采集待測食品樣品,烘干后粉碎后分散于二次去離子水中得樣品溶液,然后以飽和甘汞電極為參比電極、鉑電極為輔助電極、所述CTAB?CNT?Chit修飾電極為工作電極,進行電化學檢測。
聲明:
“CTAB?CNT?Chit修飾電極及亞硫酸鹽共存時吊白塊含量的電化學測定方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)