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            > 用于結合表面分析和整體分析的檢查和/或分類的過程和設施

            用于結合表面分析和整體分析的檢查和/或分類的過程和設施

            1165   編輯:管理員   來源:中冶有色網  
            2023-03-19 06:44:51
            本發明的目標在于,提供用于對物體、物件或類似物進行檢查和/或分類的自動過程和設施,所述物體、物件或類似物屬于至少兩個不同類別并且形成為基本在單一層中行進,例如在傳送器帶或類似運送支撐部上行進。過程的特征在于,其包括使行進流的物體、物件或類似物(2)經歷至少兩種不同類型的通過輻射進行的無接觸分析,所述分析的結果以結合方式用于每個物體、物件或類似物(2),以執行在這些物體、物件或類似物(2)中的區分和/或對這些物體、物件或類似物(2)的至少一個特征的評估,所使用的分析一方面包括能夠確定在此過程中暴露于所使用輻射的物體或類似物(2)的上層或外層的物理和/或化學組分的至少一個表面分析過程,而另一方面包括能夠確定相同的物體或類似物(2)的材料的等效厚度的至少一個整體分析過程。
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