本發明公開了一種基于碳化硼納米片增強吡啶釕電致化學發光效應的汞離子檢測方法,屬于電致化學發光技術領域。將碳化硼納米片涂覆在玻碳電極表面制備碳化硼納米片修飾玻碳電極,碳化硼納米片可增強吡啶釕的ECL效率,得到強而穩定的吡啶釕的陽極ECL信號。當溶液中存在Hg2+時,Hg2+與吡啶釕競爭與碳化硼的作用位點,使得吡啶釕的陽極ECL信號下降,ECL信號下降的程度與Hg2+濃度的對數呈線性,據此構建基于碳化硼納米片增強吡啶釕ECL效應的Hg2+檢測方法,并應用于環境水樣中Hg2+濃度的檢測,具有選擇性高、線性范圍寬和檢測限低的優點,有良好的應用前景。
聲明:
“基于碳化硼納米片增強吡啶釕電致化學發光效應的汞離子檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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