本發明涉及基于多晶X射線衍射儀的電化學檢測裝置及其測試方法,該方案包括多晶X射線衍射儀、電化學原位池、升降臺及電化學工作站;升降臺設于多晶X射線衍射儀的原樣品臺位置,電化學原位池活動設于升降臺上,通過升降臺驅動電化學原位池上下運動實現高度調節;通過電化學原位池放置安裝測試電極,通過電化學工作站與測試電極電連接,測試電極上設有沉積研究對象化合物的電極片,測試方法為裝置的方法,本方案可通過對催化反應中電極材料的原位表征,來獲取比如材料的物相、晶胞參數、結晶度、晶粒尺寸、晶體結構等信息;還原外加電壓過程中相應結構的變化趨勢等詳細信息,大大拓展了原位XRD的應用領域,填補了現有技術的空白。
聲明:
“基于多晶X射線衍射儀的電化學檢測裝置及其測試方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發明人(作者)