本發明涉及一種基于集成三電極體系微芯片的電化學與電化學發光的檢測方法。步驟如下:(1)制作集成三電極的聚甲基丙烯酸基片;(2)制作聚二甲基硅氧烷蓋片;(3)微芯片?電化學工作站檢測裝置。本發明首次將不同材料的微電極集成到了單片PMMA基片上,提高了測試裝置的集成度,不需外接電極,便攜性好、檢測響應速度快,檢測精度高,可達1×10?6M,并可以進行調整。測試方法的重復性好,100次以上數據誤差小。同時清洗電極簡單,可更換PDMS蓋片,延長了測試裝置的使用壽命、使用聚合物材料進行加工,生化兼容性好,基片透明,可兼容電化學與電化學發光檢測,化學試劑消耗量為0.1毫升/次,顯著地降低了測試成本。
聲明:
“基于集成三電極體系微芯片的電化學與電化學發光檢測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業用途,請聯系該技術所有人。
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